熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質(zhì)的激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、量子產(chǎn)率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。

　　熒光光譜儀可以對多種材料進(jìn)行元素分析，包括固體、液體和松散粉末，為滿足過程控制和研發(fā)應(yīng)用的苛刻要求而設(shè)計。其設(shè)計和功能可以執(zhí)行從鈹?shù)斤押推渌胤秶鷱牟坏桨偃f分之一到百分之一的準(zhǔn)確度分析，是一款理想的材料分析儀器。

　　熒光光譜儀的基本原理：

　　原子熒光光譜法是通過測量待測元素的原子蒸氣在輻射能激發(fā)下產(chǎn)生的熒光發(fā)射強度，來確定待測元素含量的方法。

　　氣態(tài)自由原子吸收特征波長輻射后，原子的外層電子從基態(tài)或低能級躍遷到高能級經(jīng)過約10s，又躍遷至基態(tài)或低能級，同時發(fā)射出與原激發(fā)波長相同或不同的輻射，稱為原子熒光。原子熒光分為共振熒光、直躍熒光、階躍熒光等。

　　發(fā)射的熒光強度和原子化器中單位體積該元素基態(tài)原子數(shù)成正比，式中:If為熒光強度;φ為熒光量子效率，表示單位時間內(nèi)發(fā)射熒光光子數(shù)與吸收激發(fā)光光子數(shù)的比值，一般小于1;Io為激發(fā)光強度;A為熒光照射在檢測器上的有效面積;L為吸收光程長度;ε為峰值摩爾吸光系數(shù);N為單位體積內(nèi)的基態(tài)原子數(shù)。

　　原子熒光發(fā)射中，由于部分能量轉(zhuǎn)變成熱能或其他形式能量，使熒光強度減少甚至消失，該現(xiàn)象稱為熒光猝滅。

　　其實熒光光譜儀開始用于醫(yī)學(xué)成像診斷和X射線結(jié)晶學(xué)，在分析儀器方面的使用也非常好。這歸結(jié)于熒光光譜具有很高的穿透力，能透過許多對可見光不透明的物質(zhì)，如墨紙、木材等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體資料發(fā)作可見的熒光，使照相底片感光以及空氣電離等效應(yīng)。